LT2100激光粒度仪广泛用于磨粒、制药、化工、电池材料，地质，水文等行业的颗粒表征分析。随着粉体技术的发展，对粒度分析仪的性能要求在逐步的提高，特殊是粒度仪的量程要求越来越宽。测量下限要求达到几百甚至几十个纳米，测量上限要求达到一千甚至几千微米。这对新型激光粒度仪设计提出了大的挑战。
颗粒越细，散射光的角度越小，微小颗粒的散射光甚至在360°范围内都有分布。为了拓展仪器的测量下限。需要有特别规的光学设计。颗粒越小，分布在360°空间范围的散射光光强差越小，当颗粒小到一定极限，光强差将小得几乎难以被辨别出来。这时就到了激光粒度仪的测量下限了。光学设计上的障碍和散射光本身的特性打算了常规激光粒度仪的测量下限一般在0.02μm左右。当颗粒较大时，同样也会遇到技术困难。大颗粒的散射角度很小，不简单辨别和测量。要想有效辨别大颗粒的光强分布。可简洁的拉长聚焦镜头的焦距，但焦距大将导致激光粒度仪的体积大幅增加，且特别不便于小颗粒的大角度散射光探测。同时对镜头的加工精度要求也会更高。
LT2100激光粒度仪的分析软件功能简析：
1.软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化。
2.SOP标准操作流程减少人为因素的影响，使分析测试流程标准化。
3.多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要。
4.具备自检功能，自动识别进样系统。
5.每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响。
6.多种方式的测量数据导出，方便数据交流。
7.体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换。
